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隆安
2026-01-06 09:11:49
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
| 核心參數(shù) | 推薦值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | 室溫+10℃～300℃（電子）/500℃（材料） |
| 控制精度 | ±0.5℃（電子）/±1℃（材料） |
| 升溫速率 | 3～5℃/min（典型值） |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫保護、門鎖互鎖、漏電保護 |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2、JIS C 60068-2-2 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 選型依據(jù) |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作空間內(nèi)各點溫差 | ≤2℃ | 電子元件測試需≤1℃ |
| 溫度波動度 | 設(shè)定值與實際值偏差 | ±0.5℃ | 材料老化需≤±1℃ |
| 負(fù)載能力 | 最大可放置試樣質(zhì)量 | 50～500kg | 根據(jù)試樣密度計算 |
| 控制方式 | PID/模糊控制 | PID+SSR | 快速升溫場景需模糊控制 |
致：XX廠商
請?zhí)峁┮韵略O(shè)備技術(shù)方案：
1. 溫度范圍：RT+10℃～300℃
2. 容積：1m3（內(nèi)尺寸≥800×800×800mm）
3. 控制精度：±0.5℃
4. 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2-2008
5. 附加功能：數(shù)據(jù)記錄、遠(yuǎn)程監(jiān)控
6. 質(zhì)保期：≥2年
7. 校準(zhǔn)服務(wù)：每年1次免費校準(zhǔn)
應(yīng)用場景：IC芯片、PCB板、連接器在85℃/85%RH條件下持續(xù)1000小時，檢測焊點虛焊、絕緣層老化。
失效機理：錫須生長導(dǎo)致短路，環(huán)氧樹脂玻璃化轉(zhuǎn)變溫度降低引發(fā)開裂。
應(yīng)用場景：航空鋁合金在200℃下持續(xù)500小時，檢測晶間腐蝕、硬度衰減。
失效機理：θ相（Al?Cu）析出導(dǎo)致強度下降，晶界氧化引發(fā)脆性斷裂。
應(yīng)用場景：汽車內(nèi)飾件在105℃下持續(xù)240小時，檢測維卡軟化點、色差變化。
失效機理：聚丙烯分子鏈斷裂導(dǎo)致脆化，顏料遷移引發(fā)表面發(fā)白。
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 福州XX儀器 | RT+10～300℃ | 10%～98%RH | 0.2～2m3 | ±0.3℃ | GB/T 2423 | USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出 |
| 福州YY科技 | RT+5～500℃ | 無濕度 | 0.5～5m3 | ±1℃ | IEC 60068 | 超溫報警 |
| 福州ZZ環(huán)境 | RT～800℃ | 無濕度 | 1～10m3 | ±2℃ | ASTM D573 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| 階段 | 關(guān)鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認(rèn) | 明確測試標(biāo)準(zhǔn)、試樣尺寸、預(yù)算 | 技術(shù)規(guī)格書 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 約定驗收標(biāo)準(zhǔn)、違約責(zé)任、知識產(chǎn)權(quán) | 雙方簽字協(xié)議 |
| FAT驗收 | 在廠商工廠進(jìn)行空載/負(fù)載測試 | FAT測試報告 |
| 安裝調(diào)試 | 檢查水平度、接地電阻、通風(fēng)量 | 安裝記錄表 |
| SAT驗收 | 模擬實際工況進(jìn)行72小時連續(xù)測試 | SAT合格證書 |
| 計量校準(zhǔn) | 每年1次由第三方機構(gòu)校準(zhǔn) | CNAS校準(zhǔn)證書 |
A：在空載狀態(tài)下，將9支溫度傳感器均勻布置在工作空間（上中下各3支），運行至設(shè)定溫度后穩(wěn)定1小時，記錄各點溫度。最大差值應(yīng)≤設(shè)備標(biāo)稱均勻性值（如標(biāo)稱±1℃，則實際差值需≤2℃）。
A：必須配置超溫保護（雙回路獨立傳感器）、門鎖互鎖（開門自動斷電）、排風(fēng)聯(lián)動（溫度＞50℃時強制排風(fēng)）、漏電保護（動作電流≤30mA）。2025年新國標(biāo)要求增加聲光報警功能。
A：首先檢查溫度傳感器是否老化（建議每2年更換），其次校準(zhǔn)PID參數(shù)（P值減小20%、I值增大30%），最后檢查加熱管接觸電阻（應(yīng)≤50mΩ）。若仍不達(dá)標(biāo)，需更換固態(tài)繼電器。
A：必須預(yù)熱。根據(jù)JEDEC標(biāo)準(zhǔn)，試樣應(yīng)從室溫以≤5℃/min速率升溫至測試溫度，避免熱應(yīng)力導(dǎo)致早期失效。預(yù)熱時間計算公式：t=（T_set-T_room）/5，單位分鐘。
A：按GB/T 2423.2要求，試樣總體積應(yīng)≤工作空間體積的1/3，且試樣間距≥50mm。例如測試10塊200×100×10mm的PCB板，需0.2m3以上設(shè)備（計算：10×0.02×0.1×0.01=0.002m3，但需考慮間距）。
全國工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)許可證辦公室——環(huán)境試驗設(shè)備分類標(biāo)準(zhǔn)
中國計量科學(xué)研究院——高溫試驗箱校準(zhǔn)規(guī)范（JJG 2003-2025）
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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